Schimmelpilze ist ein allgemein gebr\u00e4uchlicher Name f\u00fcr Fadenpilze aus unterschiedlichen taxonomischen Gruppen (Ascomyceten, Zygomyceten) und ihren anamorphen Stadien, fr\u00fcher Deuteromyceten oder Fungi imperfecti genannt. Sie bilden ein Myzel (Hyphen) und Sporen, durch die sie makroskopisch sichtbar werden. Die meisten Sporen liegen im Gr\u00f6\u00dfenbereich von 2 \u00b5m bis 10 \u00b5m; einige sind bis zu 30 \u00b5m und nur einige wenige bis zu 100 \u00b5m gro\u00df. Sporen einiger Schimmelpilzgattungen sind sehr klein und leicht luftg\u00e4ngig (z. B. Aspergillus, Penicillium); andere hingegen sind gr\u00f6\u00dfer und\/oder in einer Schleimmatrix (Stachybotrys, Fusarium) eingebettet und damit weniger mobil. Schimmelpilzsporen sind im Au\u00dfenluftbereich weit verbreitet und kommen daher auch im Innenraum in unterschiedlichen Konzentrationen vor. Das Wachstum von Schimmelpilzen im Innenraumbereich sollte aber als hygienisches Problem angesehen werden, da epidemiologische Studien deutlich machen, dass Feuchtigkeit und\/oder das Wachstum von Schimmelpilzen in H\u00e4usern eng mit gesundheitlichen Problemen bei Bewohnern zusammenh\u00e4ngen. Standardisierte Verfahren f\u00fcr Probenahme, Nachweis und Z\u00e4hlung von Schimmelpilzen sowie f\u00fcr die Probenahmestrategie sind wichtig f\u00fcr eine vergleichende Bewertung von Schimmelpilzsch\u00e4den im Innenraumbereich. Vor Beginn jeglicher Messungen sollte ein Plan zur Messstrategie erstellt werden. Dieser Teil der ISO 16000 beschreibt Probenahmeverfahren f\u00fcr Schimmelpilze von Baumaterialien. Das in diesem Teil der ISO 16000 beschriebene Verfahren basiert auf Teilen der VDI 4300 Blatt 10. Mit Schimmel befallene Materialien werden entweder durch eine Oberfl\u00e4chenbeprobung (siehe 7.1) oder eine Materialtiefenbeprobung (siehe 7.2), d. h. Untersuchung des gesamten Materials oder einer Materiallage von definierter Tiefe untersucht. Die anzuwendenden Verfahren h\u00e4ngen vom Ziel der Untersuchung ab, so wie dies in ISO 16000-19 beschrieben ist. Oberfl\u00e4chen werden unter Einsatz des Abklatsch-Verfahrens (siehe 7.1.1), des Klebefilm-Verfahrens (siehe 7.1.2) oder des Abstrich-Verfahrens (siehe 7.1.3) beprobt. Nach der Probenahme k\u00f6nnen die Schimmelpilzsporen mithilfe der direkten Mikroskopie (siehe 7.3) analysiert oder nach dem Suspensionsverfahren aufgearbeitet und kultiviert werden (siehe 7.4). Das Kultivierungsverfahren wird in ISO 16000-17 beschrieben.*Inhaltsverzeichnis<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Innenraumluftverunreinigungen – Teil 21: Nachweis und Z\u00e4hlung von Schimmelpilzen – Probenahme von Materialien<\/b><\/p>\n\n\n
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